深圳市君達(dá)時(shí)代儀器有限公司 誠(chéng)信為本 質(zhì)量保證
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紅外測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、聲級(jí)計(jì)、測(cè)振儀、轉(zhuǎn)速表、測(cè)溫儀、風(fēng)速儀、溫濕度儀、粗糙度儀、硬度計(jì)、照度計(jì),兆歐表等測(cè)試儀器。希爾思流量計(jì)。露點(diǎn)儀。
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超聲波測(cè)厚儀 超聲波測(cè)厚儀超聲波測(cè)厚儀原理及影響精度的因素 超聲波測(cè)厚儀的基本原理： 超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)...發(fā)布時(shí)間：2009-07-09 20:30 點(diǎn)擊次數(shù)：2241 次
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影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的因素 影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的因素 1．影響因素的有關(guān)說(shuō)明 a基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和...發(fā)布時(shí)間：2009-07-07 20:29 點(diǎn)擊次數(shù)：1551 次
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DH系列測(cè)厚儀特點(diǎn) DH系列測(cè)厚儀特點(diǎn)： 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）； 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL)； 設(shè)...發(fā)布時(shí)間：2009-07-06 20:29 點(diǎn)擊次數(shù)：1664 次
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常規(guī)涂層測(cè)厚儀的原理 常規(guī)涂層測(cè)厚儀的原理 對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。 覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、...發(fā)布時(shí)間：2009-07-01 20:24 點(diǎn)擊次數(shù)：1537 次
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美國(guó)泛美35高精度超聲波測(cè)厚儀 美國(guó)泛美35高精度超聲波測(cè)厚儀美國(guó)泛美35高精度超聲波測(cè)厚儀一般應(yīng)可以解決大部分從極薄到極厚的厚度測(cè)量； 35和35DL用于大多數(shù)的應(yīng)用中35和35DL可使用的探頭范圍從2.2...發(fā)布時(shí)間：2009-06-25 23:09 點(diǎn)擊次數(shù)：1859 次
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美國(guó)泛美35DL精密超聲波測(cè)厚儀 美國(guó)泛美35DL精密超聲波測(cè)厚儀美國(guó)泛美35DL精密超聲波測(cè)厚儀一般應(yīng)可以解決大部分從極薄到極厚的厚度測(cè)量； 35和35DL用于大多數(shù)的應(yīng)用中35和35DL可使用的探頭范圍從2...發(fā)布時(shí)間：2009-06-25 23:06 點(diǎn)擊次數(shù)：1710 次
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美國(guó)泛美MG2,37DLPLUS系列測(cè)厚雙晶探頭 美國(guó)泛美MG2,37DLPLUS系列測(cè)厚雙晶探頭美國(guó)泛美26MG,MG2,37DLPLUS系列超聲波測(cè)厚儀探頭產(chǎn)品規(guī)格探頭型號(hào)頻率頂端直徑接口位置在鋼中的范圍溫度范圍 MHzm...發(fā)布時(shí)間：2009-06-25 23:03 點(diǎn)擊次數(shù)：1757 次
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MIKE 8500霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀可選附件 美國(guó)泛美MAGNA-MIKE8500霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀可選附件： 85STD 可調(diào)比對(duì) 8509F RS-232 I/O線纜, 9 pin 陰極 8525F RS-232 I/O線...發(fā)布時(shí)間：2009-05-13 00:04 點(diǎn)擊次數(shù)：1781 次
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德國(guó)菲希爾ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀 德國(guó)菲希爾ISOSCOPEFMP30氧化膜測(cè)厚儀ISOSCOPEFMP30氧化膜測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。ISOSCOPEFMP3...發(fā)布時(shí)間：2009-05-13 00:03 點(diǎn)擊次數(shù)：1564 次
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ISOSCOPE FMP10氧化膜測(cè)厚儀 ISOSCOPEFMP10氧化膜測(cè)厚儀ISOSCOPEFMP10氧化膜測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。ISOSCOPEFMP10氧化膜測(cè)...發(fā)布時(shí)間：2009-05-13 00:01 點(diǎn)擊次數(shù)：1665 次